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Calcula los valores d y 2θ de tu difractómetro de rayos X con precisión y velocidad. Solo necesitas introducir uno de los dos datos: ya sea el espaciado interplanar (d) o el ángulo de difracción (2θ). En un solo toque, el cálculo aparece en pantalla. Diseñado para investigadores, estudiantes y técnicos que requieren resultados inmediatos sin complicaciones. Ideal para verificar picos en patrones XRD con radiación Cu-Kα. Olvídate de fórmulas complejas o hojas de cálculo. Esta herramienta hace el trabajo por ti. Fácil de usar, precisa y lista cuando más la necesitas. Optimizada para uso diario en laboratorios, aulas y estudios de caracterización de materiales. Descárgala ahora y simplifica tu análisis cristalográfico.
